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面議型號
X'Pert3 MRD品牌
馬爾文帕納科產地
荷蘭樣本
暫無誤差率:
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N/A重現性:
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靜態光散射分散方式:
N/A測量時間:
3-5min測量范圍:
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X'Pert 平臺在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 X'Pert3 平臺具有新型機載控制電子裝置,符合X 射線和運動安全規范,且具有環保和可靠性能,已準備好迎接未來的挑戰。
X'Pert3 MRD 系列新增功能具體包括:
? 全新高分辨率測角儀,它使用 Heidenhain 編碼器,因而準確性更高且定位反饋時間更短
?無需使用工具即可快速將光管位置從點焦斑更改為線焦斑
? 得益于氣動快門和光束衰減器,系統正常運行時間滿足過程控制要求
? CRISP*(包括無鉛光管塔)確保入射光路組件的壽命更長
? 第二代 PreFIX,確保實現更準確的光學器件定位
? 面向未來的單板計算機控制器,確保更好的連接性和更出色的遠程支持
*CRISP 指的是耐腐蝕智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出現由 X 射線引起的電離空氣造成的腐蝕。該技術使儀器運行更可靠,避免額外的維護工作。
PreFIX 技術
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2021-08-06
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新聞導讀:2025年9月10-11 日,由馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)/麥克默瑞提克(Micromeritics)攜手山東聯科科技股份有限公司(以下簡稱 “聯科科技”)、青島
Nature封面文章2025年7月9日,中國科學院地質與地球物理研究所、中國科學院國家天文臺與中國地質大學等科研團隊,利用嫦娥六號采回的月球背面樣品取得的四項研究成果以封面文章形式發表于國際學術期刊《
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