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面議型號
SZ-100 V2品牌
HORIBA產地
上海樣本
暫無誤差率:
-分辨率:
-重現性:
-儀器原理:
動態光散射分散方式:
-測量時間:
-測量范圍:
-500 mV ~ +500 mV看了HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2的用戶又看了
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SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質的分析工具,如顆粒粒徑、zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定;還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。
SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。
· 同臺儀器可測三種參數——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數
· 寬檢測范圍,寬濃度范圍——樣品濃度可達40%
· 自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定
· 軟件操作簡單功能強大,一鍵測量
· 雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)
· 采用微量樣品池
粒徑測量原理:動態光散射法(光子相關光譜法)
粒徑測定范圍:0.3nm ~10μm
粒徑測量精度:±2%(NIST 可溯源標準粒子100nm)
Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法
Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV
分子量測量原理:Debye plot
分子量測量范圍:1000 ~ 2×107 Da
測量角度:90° 和173°(可自動或手動選擇)
樣品量:12μL ~ 1000μL
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