誤差率:
<1%分辨率:
動態范圍大于1011重現性:
<1%儀器原理:
動態光散射分散方式:
液態分散測量時間:
1-5分鐘測量范圍:
* 原產地:看了Nanolink SZ902納米粒度及Zeta電位儀的用戶又看了
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Nanolink SZ902系列納米粒度分析儀是繼在SZ901系列納米粒度分析儀后推出的全新一款高性能動態光散射納米粒度儀產品,加持了真理光學**研發的全自動聚焦技術,實現了對納米樣品的多角度測量,無需稀釋即可對不同濃度納米樣品的粒度及Zeta電位快速測量,十分適合各種有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等多種樣品的粒度及Zeta電位研究級分析測試。
Nanolink SZ902納米粒度分析儀的杰出性能和主要特點包括:
◆包含經典90°、背向和前向動態光散射技術測量粒徑,測量范圍覆蓋0.3nm–15μm*
◆激光多普勒電泳技術用于Zeta電位分析,可準確預知分散體系的穩定性及顆粒團聚的傾向性
◆加持自動恒溫技術的**功率可達50mW,波長638nm的固體激光光源,儀器即開即用
◆**的余弦擬合相位分析法(CF-PALS)優于目前的頻譜分析法(FFT)和傳統的位相分析法(PALS)
◆**的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術
◆**的信號光與參考光的光纖合束及干涉技術
◆集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器
◆常規溫度控制范圍可達-15°C~120°C,精度±0.1°C
◆新一代高速數字相關器,動態范圍大于1011
◆冷凝控制–干燥氣體吹掃技術
◆與真理光學的全自動滴定儀聯用,檢測粒徑和Zeta電位隨pH值、電導率及添加劑濃度的變化趨勢,從而更清晰準確地洞察和了解樣品分散體系的穩定性及產生絮凝或顆粒團聚的機理
獨創的余弦擬合相位分析法(CF-PALS)、激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術和信號光與參考光的光纖合束及干涉技術
產品質量
售后服務
易用性
性價比
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