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系統配置：

■賽默飛 IRIS Intrepid II XSP 電感耦合等離子體發射光譜儀ICP-OES

這臺儀器狀況良好，已經在SpectraLab Scientific進行了測試。

所有套件和組件均包含90天保修。

儀器實物圖：

儀器簡介：

一、用途及功能

　　用途：廣泛應用于環境、冶金、地質、農林、石化、礦物、材料、食品、衛生和醫藥等領域。

　　基本功能：可同時測定73種金屬及部分非金屬元素測定，可進行定性及定量分析。

二、主要技術參數及特點

主要技術指標：

　　1. 焦距：381 mm

　　2. 波長范圍：165~1050 nm， (可測量Br， Cl， I元素)

　　3. 分辨率：0.005nm在200 nm處

　　4. 雜散光： < 0.3 ppm，10000 ppmCa 在As193.696 nm處

　　5. 全波長自動校正

　　6. 晶體控制頻率：27.12 MHz

　　7. 頻率穩定性：0.004%

　　8. 輸出功率: 750~1500 W連續可調

　　9. 功率穩定性：0.01%

　　10. ICP 觀測方式：垂直炬

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