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博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀O系列
博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀O系列

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美國

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上海桑結實業有限公司

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博曼O系列產品概述:

O系列采用毛細管光學結構,測試性能良好,同時能實現小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細管結構取代了安裝在博曼標準機型中的準直器組件。由于多導毛細管可以傳遞數百倍的能量信號,可以有效提高到達樣品表面的入射X射線強度。O系列配備高分辨率的SDD探測器,在短時間內捕捉并處理大量數據,在短時間內滿足小斑點的測量的同時獲取準確的測量結果(準確性和重復性)。

該系列采用80μm毛細管光學結構,同時配備可處理更高計數速率的高分辨率SDD硅漂移探測器。O系列的相機具有更大的放大倍數,擁有45x視頻放大和5x數碼變焦。一個可編程的XY樣品臺也是標準配置。O系列的焦距非常接近,所以使用時樣品必須平整。

博曼O系列可滿足以下類型用戶的需求:

- 小樣品,如半導體,連接器或PCB

- 需要測試多個樣品的多個位置

- 需要測量非常薄的涂層(<100nm)

- 需要在短時間內完成測量(1-5秒)

- 符合IPC-4552A

博曼O系列產品參數:

類別

參數

元素測量范圍:

X射線管:

探測器:

分析層數及元素數:

濾波器/準直器:

焦距:

數字脈沖器:

計算機:

相機:

電源:

重量:

可編程XY平臺:

樣品倉尺寸:

外形尺寸:

13號鋁元素到92號鈾元素

50 W鉬鈀射線管 80um毛細管光學結構

135eV及以上分辨率的硅漂移探測器

5層(4層+基材) 每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素

2位置一次過濾器

固定焦距(0.1")

4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正

英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X雙攝像頭或45X單攝像頭

150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz

53kg

平臺尺寸:15"x 13"| 行程:6"x 5"

高度:140mm(5.5"),寬度:310mm(12"),深度:340mm(13")

高度:450mm(18"),寬度:450mm(18"),深度:600mm(24")

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產品質量

10分

售后服務

10分

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性價比

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