看了硅片厚度測量儀SIT-200的用戶又看了
留言詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
硅片厚度測量儀SIT-200
硅片厚度測量儀（SIT-200）由精確可調激光光源，聚焦傳感器，光學接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標上，由目標表面和背面反射光干涉形成干涉圖案，經過聚焦傳感器后由光學探測器進行檢測。
產品特點：
l 全光學，非接觸硅片厚度測試
l 高動態范圍測量粗糙表面
l 濕法刻蝕過程中實時測量
高靈敏度高精度快速測量遠程控制
結構示意圖
SIT-200
產品參數：
測量目標 | 硅片 |
測量厚度 | 10-500μm |
光源 | 1515-1585nm掃描 |
功率 | 0.6mw，Class1 |
指示光源 | 紅光，Class1M |
測量時間 | 20ms |
重復性 | 0.1μm |
輸出監控 | 干擾信號（電學） |
PC接口 | 網口 |
供電 | 100-240V，50/60Hz |
尺寸 | 364 x 147 x 391mm |
重量 | 9kg |
暫無數據！
硅片厚度測量儀SIT-200的工作原理介紹？硅片厚度測量儀SIT-200的使用方法？硅片厚度測量儀SIT-200多少錢一臺？硅片厚度測量儀SIT-200使用的注意事項硅片厚度測量儀SIT-200的說明書有嗎？硅片厚度測量儀SIT-200的操作規程有嗎？硅片厚度測量儀SIT-200的報價含票含運費嗎？硅片厚度測量儀SIT-200有現貨嗎？硅片厚度測量儀SIT-200包安裝嗎？
手機版：
工商已核實
