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產品特點：
大功率的穩態太陽光模擬光源
配置應用在科研級的分光及探測系統
對比測量標準溯源至NIST
簡潔美觀的**設計
去除影響測試結果的多余結構，減少系統誤差
優化傳統的測試結構，提高測量的不確定度及重復性
粗大誤差自動去除，線性誤差、周期誤差等的自動校正
可擴展增加溫控、真空吸附等輔助結構
技術參數：
波長范圍 | 350-1050nm(可擴展) |
測試樣品尺寸 | ≤156x156mm(可擴展) |
測試模式 | Mapping |
系統重復性 | 1% |
反射率范圍 | 0-100% |
單點測試時間 | ＜3s |
校正時間 | ＜15s |
雜散光 | 1x10-3 |
取樣孔徑 | Φ10mm |
校準板 | 標準白板（溯源NIM） |
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