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T100型萬能摩擦磨損試驗機
T100型萬能摩擦磨損試驗機

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型號

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產地

美國

樣本

暫無
儀思通科技(香港)有限公司

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**、產品簡介:

美國NANOVEA公司的T100摩擦磨損試驗機是一款多功能的摩擦磨損試驗機設備,可在一臺設備上實現旋轉,線性往復,環-塊,環-四種工作模式,同時具有原位磨損率測量模塊,高溫模塊,低溫模塊,濕度模塊,膜厚測量模塊,氣氛模塊,潤滑模塊,真空模塊,電化學腐蝕摩擦模塊,光學顯微鏡,聲發射模塊等多種模塊可供選擇,是科研客戶及工業客戶的理想選擇。該儀器除了能得到摩擦系數及摩擦力外,還可自動得到磨損率,磨損深度,磨損面積體積,粗糙度及二維表面形貌,同時能計算靜摩擦系數與Stribeck曲線。

1、可在同一儀器上實現多種測量功能,真正意義上的**摩擦磨損測試;

2、符合ASTM3702ASTM G99ASTM G133等國際標準;

3、用于高精確進行實時監測摩擦系數曲線;

4、有旋轉,線性往復,環-塊,環-環四種工作模式;

5、采用位置譯碼器與速度譯碼器可精確控制馬達控制速度與位置; 

6、可測量靜摩擦系數及Stribeck曲線;

7、**載荷:100N

8、轉度:0.01-5000rpm15000rpm可選; 

9、密封式裝置,可以控制環境,如:氣體、濕度、潤滑等;

10、高溫模式選件,**可測1100環境下的摩擦磨損;

11、實時接觸電阻測量選件可提供接觸電阻測試

12、表面形貌測試模塊選件用于測量磨損率磨損前后二維表面形貌、磨損面積、磨損率、磨損深度、平整度、線粗糙度參數(RaRpRvRzRcRtRqRskRku,)等表面參數

13、原位電化學工作站選件,搭配普林斯頓的電化學工作站進行摩擦腐蝕方向的研究。

14、真空模塊選件,可實現真空環境下的摩擦磨損測試。

15、低溫模塊選件,可實現低溫-150下的摩擦磨損測試

第二、產品應用:

半導體技術:

·鈍化層

·金屬涂敷

·焊墊

醫療:

·藥片

·植入物

·生物組織

光學元件:

·棱鏡

·眼鏡

·光纖

·光學元件涂層

·高容量光存儲:

·磁盤涂層

·CD涂層

·薄膜

耐磨材料涂層:

·TiN, TiC, DLC

·切削工具

工程:

·橡膠

·觸摸屏

·涂層

微電子器件系統

裝潢金屬涂層

汽車:

·噴漆涂層

·玻璃印刷層

·汽車精加工部件

第三、技術參數:

主機參數:

參數

旋轉模式

載荷范圍

50mN-100N

載荷分辨率

6μN

旋轉速度

0.01-5000rpm/0.05-15000rpm

**扭矩

4.4Nm

**摩擦力

+/-100N

摩擦力分辨率(理論)

6μN

X軸自動控制范圍

50mm

X軸半徑分辨率

2.5μm

儀器尺寸

65cm×52cm×65cm

重量

70Kg

盤尺寸

100mm

接觸探頭

可選針型、球形與銷型

線性往復模式

**振幅

25mm

**掃描頻率

60Hz@5mm沖程

潤滑控制系統(可選)

液體消耗率

60-90cm3/hour

液體容量

120ml

液體容器

包含

高溫測量系統(可選)

箱體溫度(旋轉模式)

1100

加熱片(線掃描模式)

800

液體加熱模式

150

分辨率

1

低溫模塊(可選)

-40/-150

深度傳感器(可選)

**位移量

2000μm

分辨率

0.1nm

接觸電阻(可選)

**阻抗

0-1000 Ohms

表面形貌儀模塊技術參數:

NANOVEA公司提供兩種光學測量探頭可供用戶選擇:

EP110(用于磨損較淺的情況)光學測量探頭的技術參數如下:

1) Z方向測量范圍:100μm

2) Z方向測量分辨率:20nm

3) Z方向測量精度:50nm

4)橫向光學分辨率:3μm

5)光斑直徑:6μm

6)工作距離:1mm

EP1500(用于磨損較深的情況)光學測量探頭的技術參數如下:

1) Z方向測量范圍:1.5mm

2) Z方向測量分辨率:200nm

3) Z方向測量精度:300nm

4)橫向光學分辨率:3.5μm

5)光斑直徑:7μm

6)工作距離:2.3mm

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產品質量

10分

售后服務

10分

易用性

10分

性價比

10分
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