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儀器簡介：

日本AET微波(高頻)介電常數測試儀， 利用微波技術結合高Q腔以及3D電磁場模擬技術，采用德國CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM，測量材料的高頻介電常數，此方法保證了介電常數測量結果的精確性。

AET公司開發(fā)了二種共振腔：空洞共振腔和開放式同軸共振腔用于測試環(huán)境腔。

技術參數：

頻率范圍：1G~20GHz

同軸共振腔：

介電常數Epsilon：1~15，準確度：+/-1%，

介電損耗tangent delta：0.05~0.0001，準確度：+/-5%

主要特點：

空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。

印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的， 玻纖介電常數為5~6， 樹脂大約是3， 由于樹脂含量， 硬化程度， 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差， 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易， 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低，。

日本AET 公司針對CCL/印刷電路板設計空洞共振腔測試裝置 ， 只需裁成小長條狀即可量測精確的復介電常數(Dk)， 尤其是低損耗(Df)的樣品， 測量值非常精準。

用于介電常數測試儀，介電常數分析，介電損耗測試，高頻介電常數測量。