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型號:美國FEI Quattro S
功能:用于材料表面、斷面形貌觀察,微區成分定性定量分析。
技術參數:
﹡分辨率:1.0nm(30KV, SE)
﹡附件:X射線能譜儀(EDS)、電子背散射衍射儀(EBSD)
﹡放大倍數:300萬倍
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產品質量
售后服務
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性價比
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