參考價格
40-50萬元型號
PSS Nicomp 380 Z3000品牌
美國PSS產地
美國樣本
暫無重現性:
>99%儀器原理:
動態光散射分散方式:
濕法分散測量時間:
1min-10min測量范圍:
0.3nm-10μm誤差率:
參考分辨率:
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Nicomp 380 系列納米激光粒度儀
專為復雜體系提供高精度粒度解析方案
基本信息
儀器型號:Z3000
工作原理:
粒度分布:動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)
ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)
檢測范圍:
粒徑范圍 0.3nm-10.0μm
ZETA電位 +/- 500mV
Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來,采用動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個電極可以使用成千上萬次。另外,采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度,亦幫用戶大大節省檢測成本。
光阻法,單μm顆粒技術,高濃度樣品
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