近日，百特BeNano納米粒度及Zeta電位分析儀成功通過中國分析測試協會的成果評價，專家組一致認定該儀器綜合性能達到國際同類產品先進水平，部分技術具有突破性創新。

本次成果評價會由中國分析測試協會技術部主任吳淑琪研究員主持會議，專家組包括中國科學院納米中心王孝平研究員（組長）、遼寧省分析測試協會劉成雁教授、東北大學教授安希忠、北方工業大學教授陳吉文以及儀器專家趙泰高級工程師。專家組實地考察了研發中心、儀器制造部、質檢部、精密加工車間和實驗室，對百特持續十六年研發的BeNano儀器及規范的產品質量管理體系給予高度評價。

鑒定會上，董青云總經理向專家組介紹了百特30年的發展歷程。產品總監寧輝博士報告了BeNano的研發背景、核心功能、卓越性能及優異市場表現。

成果評價會上，專家們審閱資料、聽取報告、現場質詢，并查看了儀器運行情況。他們認為，BeNano儀器有以下的創新與優勢：

功能強大，集成創新：

融合動態光散射、電泳光散射、靜態光散射等6大光學技術，實現納米粒徑、Zeta電位、分子量、液體折射率、微流變、顆粒濃度等12種關鍵檢測功能。

突破創新，性能領先：

應用“消光法動態光散射（LEDLS）”技術，實現濃度高達108-1016個/mL的顆粒數量精準檢測；將沉降法技術有機融入納米粒度儀中，將納米粒度儀的粒徑檢測上限大幅擴展至50μm；采用“動靜態流動模式”，將粒徑分辨率由傳統的1:3提升至1:1.3，并可提供絕對分子量Mw、Mn、Mz及分布信息。

技術先進，精益求精：

“相位分析光散射技術”顯著提升低遷移率或高鹽環境下的Zeta電位測量精度；“毛細管微量樣品池技術”僅需1.5μL樣品即可完成粒徑檢測；“微流變檢測技術”能深入表征復雜流體粘彈性；“獨特楔形樣品池與光斑位置識別技術”實現0.1%精度的液體折射率檢測；多角度散射光檢測設計，提升靈敏度，支持0.1ppm至40% w/v的寬濃度范圍檢測。

BeNano納米粒度及Zeta電位分析儀作為百特自主研發的高端儀器，現已成功應用于國內外醫藥、科研、食品、化學、納米材料制造等科研和產業領域，包括哈弗大學、劍橋大學、香港大學等國外名校。目前，該儀器已申請專利19件（授權11件），登記軟件著作權1項。

專家經過嚴格審查與深入討論，一致給予“國際先進水平”的權威評價！

BeNano納米粒度及Zeta電位分析儀通過國家級行業協會權威成果評價，是對丹東百特30年堅持自主創新、追求卓越品質的充分肯定。百特將繼續深耕顆粒表征領域，以先進的技術、可靠的產品和完善的服務，為用戶提供納米顆粒分析的最佳解決方案。