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BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀中在0°角設置一個PD檢測器，通過檢測透射光的光強隨時間的變化，檢測沉降樣品的粒度和粒度分布信息。沉降法得到的是顆粒的斯托克斯徑，粒度測試的適合范圍在幾微米至幾十微米，可以有效地彌補動態光散射對于大顆粒檢測的限制。

在這篇應用報告中，使用丹東百特BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀檢測了多種微米級粒徑的樣品的粒度信息并與激光衍射法對應粒徑進行了比較。

原理

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀基于透射光路檢測樣品的透射光強度，然后基于斯托克斯方程

計算體系的粒徑和粒徑分布信息，測試需要對應溫度下分散介質的折射率、密度和粘度信息、對應溫度下顆粒物的折射率和密度和樣品體積。

實驗

實驗中測試了三種材質微米級樣品，分別是硅酸鹽顆粒、PMMA顆粒和氧化鋁顆粒，其信息如下表：

通過百特Bettersize2600激光粒度分析儀分別對樣品進行了測試得到其D50值，通過BetterPyc 380多功能真密度儀檢測了樣品的密度信息。

將樣品和水按照一定比例混合放入光程為10mm的方形玻璃樣品池中進行測試，測試前恒溫120秒，使樣品達到平衡溫度，然后利用移液槍將樣品混合均勻開始收集信號。

結果分析和結論

圖1. BeNano樣品沉降法得到的D50粒徑

與激光粒度儀得到的D50粒徑對比曲線

表1. BeNano樣品沉降法得到的D50粒徑與激光粒度儀得到的D50粒徑值表

通過圖1和表1的曲線和數據可以看到，對于2-60μm范圍內多種材質多種粒徑的微米級樣品，通過BeNano沉降法得到的斯托克斯徑D50值與激光粒度儀得到的體積中徑D50值一致性較好。這充分說明了BeNano沉降法對于微米級粒徑的處理能力，有效地擴展了納米粒度及Zeta電位儀的粒徑測試范圍和應用領域。