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引領行業新標準 | Particle Metrix ZetaView? Evolution納米顆粒跟蹤分析系統正式發布

引領行業新標準 | Particle Metrix ZetaView? Evolution納米顆粒跟蹤分析系統正式發布
DKSH  2025-04-24  |  閱讀:1160

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ZetaView? Evolution 

納米顆粒跟蹤分析儀


旨在探索繽紛的納米世界

全新ZetaView? Evolution帶您探索繽紛多彩的納米宇宙。


這款為精準而生的系統,集粒徑、濃度、Zeta電位及多通道熒光分析于一體,以卓越的共定位能力和無與倫比的靈敏度,為納米顆粒分析樹立新標桿。


ZetaView? Evolution 納米顆粒跟蹤分析儀

ZetaView? Evolution重新定義了納米顆粒表征的標準。其特點包括免校準的粒徑與濃度測量、創新的濃度掃描技術、通過多達4種激發激光實現的11個高靈敏度熒光通道直接Zeta電位分析。由此,ZetaView? Evolution能夠針對多種應用場景實現精準、全面的樣本表征。集成的共定位納米顆粒跟蹤分析(C-NTA)可同步檢測單個顆粒上的生物標志物,是外泌體(EV)研究、病毒表征及靶向藥物遞送研究的理想工具。

探索多參數納米顆粒分析的強大潛能——ZetaView? Evolution專為高性能分析打造,德國制造,品質卓越。? 通過布朗運動追蹤進行粒徑測定的掃描NTA

 ? 免校準的粒徑和濃度測定

 ? 濃度掃描技術 

 ? Zeta電位測量

 ? 靈敏度提升的熒光NTA(F-NTA),最多可支持4種激光和11個熒光通道

 ? 共定位NTA(C-NTA):單顆粒雙熒光標記共定位

 ? 可選激光:405nm、488nm、520nm、640nm、660nm

 ? pH兼容性:1–13


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納米顆粒跟蹤分析(NTA)

納米顆粒跟蹤分析(NTA)是一種廣泛應用于液體中納米顆粒表征的技術。它結合激光散射與視頻顯微技術,可視化并追蹤單個顆粒的布朗運動。通過分析其運動軌跡,利用Stokes-Einstein斯托克斯-愛因斯坦方程可計算顆粒的流體力學直徑和濃度。


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新穎的濃度掃描技術

創新的濃度掃描技術徹底革新了納米顆粒濃度測量。該技術通過全測量體積掃描捕獲所有顆粒,實現:

? 免校準測量

 ? 不同樣本類型數據的直接可比性

 ? 熒光與散射通道數據的直接比對

 ? 可在寬濃度范圍內獲得精確、可重復的結果


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Zeta電位

Zeta電位是懸浮顆粒滑動面的電勢,反映顆粒間靜電排斥或吸引的程度,是預測膠體分散體系穩定性的關鍵參數。Zeta電位的絕對值越高(不論正負),表示顆粒間的排斥力越強,有助于防止它們聚集在一起。ZetaView? Evolution可直接在石英玻璃測量池內完成Zeta電位測量——無需耗材。


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F-NTA熒光模式:檢測樣本中多達11種亞群

通過熒光模式(F-NTA),可排除鹽結晶、蛋白質聚集體等雜質干擾,獲得更精準結果。ZetaView? Evolution特點包括:

? 多達4種激光:405nm、488nm、520nm及640nm或660nm

 ? 11個熒光通道(支持定制濾光片)

 ? 靈敏度提升


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ZetaSphere軟件

結合廣受好評的ZetaView軟件與多層次樣本分析需求,我們推出了全新ZetaSphere軟件——專為極致用戶體驗設計。

亮點功能:

? 預設應用模板

 ? 實時粒徑與濃度統計

 ? 完整多參數樣本報告

 ? 一鍵切換激光

 ? 數據庫事件日志保障數據完整性


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ZetaView? Evolution——滿足多樣化研究需求

ZetaView? Evolution提供靈活的系統配置(單激光Mono、雙激光Twin、四激光Quatt),適配納米顆粒研究的多元需求。每種配置均支持粒徑與濃度測量等核心功能,并可選配熒光檢測與共定位分析模塊以深入解析樣本。所有功能模塊與激光配置均可后期升級。


 無論您是追蹤單一參數,還是分析多熒光亞群,ZetaView? Evolution都能為您的實驗流程提供理想配置。從單激光基礎款到四激光11通道旗艦款——ZetaView?以科學之名,隨需而變。


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德國Particle Metrix(簡稱PMX)是一家專業研發和制造表征膠體特征和生命科學研究的儀器公司。


在生命科學研究領域,PMX公司的ZetaView?產品采用了激光光源照射納米顆粒懸浮液,利用全黑背景可以觀察到單個納米顆粒的布朗運動和電泳現象,能夠實現單個納米顆粒的跟蹤,粒度測量,Zeta電位測量,濃度測量等。


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大昌華嘉科學儀器部

作為PMX公司 ZetaView?納米系列產品的總代理,我們為用戶提供完善的售前、售后服務及全面的技術和應用支持。

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