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11月9日上午，第十二屆全國顆粒測試學術會議暨2019 全國粉體測試技術應用研討會在杭州召開，本次會議的主辦單位是中國顆粒學會顆粒測試專業委員會。會議邀請了行業內的專家、學者為大家帶來精彩報告，會議旨在召集顆粒測試行業內人士共同探討顆粒測試的研究進展、技術難點及應用。會議現場如火如荼，與會人員熱情高漲。

會上，珠海真理光學儀器有限公司首席科學家張福根博士做了“粉體中（最）大粒的科學表征方法探討”的主題報告，提出最大粒的表征問題，真實的最大粒本質上是不可測得。能測視場內最大粒（BPVF）的粒度儀包括：電阻法顆粒技術器、顆粒圖像處理儀、沉降法粒度儀、其他計數型的粒度儀，并指出激光粒度儀不能測BPVF。

中國計量大學肖剛書記、中國顆粒學會王體壯秘書長、中國顆粒學會顆粒測試專委會主任委員、天津商業大學校長葛寶臻教授為本次大會致辭。

11月10日，大會還頒發了顆粒測試獎和優秀論文獎。其中丹東百特儀器有限公司、中國檢驗檢疫科學研究院、北京市理化分析測試中心獲得一等獎，中國科學院過程工程研究所獲得顆粒測試獎二等獎；呂且妮、黃鷺、蔡玳菁、張晨雨、王宵宵獲得優秀論文獎。

真理光學作為一家專注于顆粒表征分析儀器研發、生產和銷售的顆粒表征分析技術企業，為客戶提供從納米到微米，從固體顆粒到乳液、噴霧，全面的顆粒表征儀器和應用解決方案！開發了新一代超高速智能激光粒度分析系統：LT3600系列、LT2200系列、LT2100系列，新一代精度納米粒度和Zeta電位分析系統Nanolink S900，超高速實時噴霧粒度儀Spraylink系列。