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 PHI nanoTOF 3 飛行時間質譜儀

簡介

nanoTOF 3是PHI**一代的TOF-SIMS，擁有全新外觀、緊湊設計，以及更強性能。

關鍵技術

• 實現高精度測量的一次離子槍。

• 三重離子束聚焦質量分析器，復雜形貌樣品的高精度分析。

• TOF-SIMS自動多樣品測試。

• 獨特的離子束技術。

• 通過平行成像MS/MS進行分子結構分析。

• 可靠的遠程訪問功能，即使在遠離設備的情況下也能進行“測量”和“診斷”。

• 多樣化配置。

實現高精度測量的一次離子槍

先進的離子束技術，實現高空間分辨率

PHI nanoTOF3 能夠提供高質量分辨和高空間分辨的TOF-SIMS分 析：在高質量分辨模式下，其空間分辨率優于500 nm；在高空間分 辨模式下，其空間分辨模式優于50 nm。通過結合高強度離子源、 高精度脈沖組件和高分辨率質量分析器，可以實現低噪聲、高靈敏度和高質量分辨率的測量。

三重離子束聚焦質量分析器(TRIFT)，復雜形貌樣品的高精度分析

三重離子束聚焦質量分析器，適用于寬帶通能量、寬立體接受角度、各種形貌樣品分析

主離子束激發的二次離子會以不同角度和能量從樣品表面飛出，特別是對于有高度差異和形貌不規則的樣品，即使相同的二次離子在分析器中會存在飛行時間上的差異，因此導致質量分辨率變差，并對譜峰形狀和背景產生影響。

TRIFT質量分析器可以同時對二次離子發射角度和能量進行校正，保證相同二次離子的飛行時間一致，所以TRIFT兼顧了高質量分辨率和高檢測靈敏度優勢，對于不平整樣品的成像可以減少陰影效應

TOF-SIMS自動多樣品測試

Queue Editor實現多樣品自動測試

您可以輕松創建和編輯包括質譜分析、成像分析和深度剖析在內的所有測試方案。測試方案中除了測試條件外，還包括測試位置的信息。在您創建測試序列后，程序可根據測試方案自動進行多樣品多點分析。

全自動樣品傳送系統

PHI nanoTOF3 配置了在XPS的Q系列上表現優異的全自動樣品傳送系統：**樣品尺寸可達100 mmx100 mm，而且分析室標配內置樣品托停放裝置；結合分析序列編輯器（Queue Editor）， 可以實現對大量樣品的全自動連續測試。

獨特的離子束技術

采用新開發的脈沖氬離子槍，獲得**的自動荷電雙束中和技術

TOF-SIMS測試的大部分樣品為絕緣樣品，而絕緣樣品表面通常有荷電效應。PHI nanoTOF3 采用自動荷電雙束中和技術，通過同時發射低能量電子束和低能量氬離子束，可實現對任何類型和各種形貌的絕緣材料的真正自動荷電中和，無需額外的人為操作。

標配離子槍新增FIB(Focused Ion Beam)功能

在PHI nanoTOF3 中，液態金屬離子槍增加了FIB處理新功能，
可以使用單個離子槍進行橫截面處理和橫截面TOF-SIMS分析。
通過操作計算機，可以快速輕松地完成從FIB處理到TOF-SIMS
分析的全過程。此外，也具備冷卻條件下FIB加工能力。

通過平行成像MS/MS進行分子結構分析

MS/MS平行成像同時采集MS1/MS2數據（**）

在TOF-SIMS測試中，MS1質量分析分析器接收從樣品表面產生的所有二次離子碎片，對于質量數接近的大分子離子，MS1譜圖難以區分。通過安裝串聯質譜MS2，對于特定離子進行碰撞誘導解離生產特征離子碎片，MS2譜圖可以實現對分子結構的進一步鑒定。

PHI nanoTOF3 具備串聯質譜MS/MS平行成像功能，可以同時 獲取分析區域的MS1和MS2數據，為分子結構的精準分析提供了 強有力的工具。

可靠的遠程訪問功能，即使在遠離設備的情況下也能進行“測量”和“診斷”

遠程訪問實現對儀器的遠程控制

PHI nanoTOF3 允許通過局域網或互聯網訪問儀器。只需將樣品 臺放入進樣室，就可以對進樣、換樣、測試和分析等所有操作進 行遠程控制。我們的專業人員可以對儀器進行遠程診斷*。

*如需遠程診斷，請聯系我們的客戶服務人員。

多樣化的配置

• 串聯質譜

• 氬團簇離子源

• 氬/氧氣離子源

• 銫離子源

• 碳60離子源

• 樣品臺高/低溫模組

• 真空傳輸管

• 惰性氣氛手套箱

• 觀察曲面樣品專用樣品托

• 通氧模組

• 聚焦離子束

• 聚焦離子束軟件

• 離線數據處理軟件

• 靜態質譜圖庫