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PCI共同光路干涉弱吸收測量儀
PCI共同光路干涉弱吸收測量儀

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北京

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北京昊然偉業光電科技有限公司

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測量原理

右圖,Pump 光(泵浦光)為一束光束質量較好的強激光聚焦到待測樣品上,光吸收的存在將在樣品內部產生熱波,從而在樣品內部形成周期性的梯度折射率分布,即熱透鏡效應,當一束Probe beam(探測光)經過熱透鏡效應區域與pump光相交時,探測光在該焦點處波前發生畸變引起點衍射共路干涉,并產生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理,*后由軟件計算顯示出待測樣品的吸收值。

PCI弱吸收儀特點:

  • 精度高: 1 ppm;

  • 一次測量可以區分體、面吸收;

  • 掃描速度快(幾分鐘);

  • 對樣品規格要求不高;

  • 操作方便、簡單。

PCI弱吸收儀應用領域:

  • 光學薄膜

  • 光學晶體材料

  • 光學鏡片

PCI弱吸收儀性能

  • 測量晶體(LBO、YVO4、KTP…)或光學產品(K9、BK7、UVFS…)內部材料的弱吸收(體吸收)

  • 測量晶體或光學產品的表面吸收或薄膜吸收

PCI 指標說明

波長 常規355、532、1064nm,其它波長可定制
靈敏度體吸收:1ppm/cm;面吸收:1ppm
樣品規格
方形、圓形均可
*小尺寸(mm):3x3x3;
**尺寸(mm):50x50x50
其它尺寸可定制
測試速度常規2min/片(相對6mm厚度)
區分體、面吸收一次測量可以區分體、面吸收
軟件掃描功能
AbMat-1D: 一維逐點掃描
AbMat-2D: 二維吸收立體掃描
掃描方式長度/面/時間掃描

PCI 配置說明

1.光源
Probe光源
632nmHe-Ne 激光器(原裝進口)
-**功率:2mw
-功率穩定性:<0.1%
-發散角:1.3mrad
-偏振比:500:1
Pump光源
#1064nm 光纖激光器
-平均功率: 20W(CW)
-光束質量M2:<1.5
-功率穩定性:<2%(超過5 小時)
-偏振:隨機
-制冷方式:風冷
-偏振光系統
2.探測部分
原裝進口
含鎖相放大器、光斬波器、探測器、功率計、二維調整架等。
3.載物臺部分
原裝進口
含三維步進電機、樣品支架等
4.光學元件部分反射鏡、透鏡、功率調節器等
5.軟件部分
實時數據采集,自動保存,數據分析等。
一維逐點掃描
二維吸收立體掃描
6.其它說明
建議設備安裝在超凈間環境;
建議配UPS電源。

測量結果及儀器實物圖

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產品質量

10分

售后服務

10分

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10分

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10分
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