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LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術（MWLI®）的干涉式掃描測量系統。它專為旋轉對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設計，例如非球面光學透鏡。該系統能為高質量的光學表面3D形狀測量提供**效益。

特征

LuphoScan平臺能夠輕松進行非球面、球面、平面和自由曲面的測量。該儀器的主要特性包括高速測量、特殊表面的高靈活度測量（例如：拐點的輪廓或平坦的尖點），**物體直徑可達420mm。因為采用多波長干涉技術（MWLI®）傳感器技術，因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。

測量精度

該系統使用了復雜的參考傳感器以及特殊的基準框架概念，能夠確保**精度的測量結果，精度可在±50nm以上。

高速測量

典型測量時間：30mm直徑球面小于2分鐘，130mm直徑球面小于5分半鐘。

主要應用領域

LuphoScan測量系統用于測量可旋轉的對稱表面的3D拓撲結構，例如凹面球面透鏡和凸面球面透鏡。測量工作臺的設計能夠確保測量大多數的透鏡，而不受任何球形偏離、罕見頂端形狀（平頭）、傾斜或者發射點圖的限制。

除了標準的測量應用外，還可以使用LuphoScan測量平臺的特殊擴展工具LuphoSwap不同擴展功能，來完成多種光學要素特征的測量。該工具能夠輔助測量透鏡厚度，以及楔形與偏心誤差。除此之外，額外的附加軟件類型能夠直接測量間斷的透鏡，如分段表面包括矩形部件、環形透鏡、有衍射階梯的表面和錐透鏡。

多樣化的測量平臺配置

LuphoScan測量平臺技術能夠提供三種不同大小和不同測量配置的選擇。測量平臺大小能夠決定**被測物體。**測量直徑可選：120mm、260mm和420mm。