參考價格
面議型號
SediGraph III品牌
Micromeritics產地
美國樣本
暫無誤差率:
0.0001分辨率:
/重現性:
優于1%儀器原理:
光透沉降分散方式:
濕法分散測量時間:
/測量范圍:
0.1-300μm看了全自動Χ光沉降粒度分析儀的用戶又看了
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SediGraph III Plus 5125全自動X光沉降粒度分析儀
獨特、可靠且成熟的粒度分析儀
在過去的 50 多年,是全球沉降粒度分析領域的標準
根據斯托克斯定律確定粒徑
粒徑分析時實時監測顆粒沉降過程并查看報告的粒徑結果
全自動運行并通過先進的軟件界面實現控制
可選配 MasterTech 自動進樣器實現高通量測試
礦業、地質和陶瓷等眾多主流行業的行業標準
符合 ASTM B761-06 和先進陶瓷委員會 C28 的要求
SediGraph III Plus 基于直接檢測質量濃度確定粒度分布和統計數據,例如 D10、D50 和 D90。 只需一鍵即可獲得基本和高級報告。 SediGraph III Plus 可選配 MasterTech 自動進樣器,連續監測生產過程,并將數據推送到網絡或云端以供遠程訪問。
性能與優點:
智能設計特性
SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。 全新功能使得儀器的操作和維護更加輕松,并且能夠確保對同一樣品在任意一臺 SediGraphs 儀器上都能獲得可靠、重現的結果。
設計改進包括
完整的顆粒分析,能夠確保對樣品中的所有顆粒進行分析,包括粒徑小于 0.1 μm 的部分
能夠與其他粒徑測量方法獲得的數據合并,從而將數據報告范圍擴展到 125000 μm (125 mm),在地質學方面有很好的應用
自下而上地掃描沉降池,能夠準確地獲取快速沉降顆粒的總數,同時盡可能縮短細顆粒分離所需的時間
全自動操作模式能夠提高樣品分析通量,并且減少人為操作步驟,以降低由人為操作造成的測量誤差
溫控分析可確保在整個分析過程中液體的性質保持恒定,獲得精確的分析結果
多種分析速度,可根據實際需要選擇速度和分辨率
實時顯示,能夠監控當前分析的累積質量圖,以便根據需求即時修正分析程序
統計過程控制(SPC)報告能夠跟蹤過程性能,便于立即對波動變化作出響應
多圖疊加功能,能夠對分析結果進行可視化比較,例如,與參考樣品或基線疊加,或將同一分析數據的兩種不同類型結果圖疊加
數據比較圖,能夠以圖表形式顯示兩組數據集之間的數學差(與參考樣品圖的差異)或某個數據點值高于或低于容差范圍的程度(超標圖)
多分析儀控制,允許使用同一臺計算機控制兩臺 SediGraph ,節省寶貴的實驗室空間,方便數據存儲
更多信息,歡迎咨詢。
Micromeritics 是提供表征顆粒、粉體和多孔材料的物理性能、化學活性和流動性的全球高性能設備生產商。我們能夠提供一系列行業前沿的技術,包括比重密度法、吸附、動態化學吸附、壓汞技術、粉末流變技術、催化劑活性檢測和粒徑測定。
公司在美國、英國和西班牙均設立了研發和生產基地,并在美洲、歐洲和亞洲設有直銷和服務業務。Micromeritics 的產品是全球具有創新力的知名企業、政府和學術機構旗下 10,000 多個實驗室的優選儀器。我們擁有專業的科學家隊伍和響應迅速的支持團隊,他們能夠將 Micromeritics 技術應用于各種要求嚴苛的應用中,助力客戶取得成功。
更多信息,歡迎咨詢。
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