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SR750 超高分辨率光譜儀
結合創新型的光學器件設計，SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD，可以非常方便進行空間多點光譜的同時采集與測量。SR-750 可以配用多種附件，拓展應用領域，在透射/ 反射/ 吸收光譜、Raman 光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供**的系統解決方案。
SR750 超高分辨率光譜儀主要特點：
? 分辨率**可達0.02nm
? 多路光譜優化光路，低串擾，高密度多路光譜探測
? 針對每臺譜儀記錄三光柵塔輪信息，便于以后光柵升級
? 雙探測器出口選項，可安裝不同類型探測器滿足不同實驗需求
? 多樣化的附件選擇
? 支持單點探測器，波長**可達12μm
? 光學元件鍍銀選項，保證紅外探測器更好的性能
SR750 超高分辨率光譜儀技術參數指標：
SR750 超高分辨率光譜儀配置選項：
附件選項：
光纖、法蘭、動態狹縫、快門、光柵、可調底腳
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