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面議型號
LS 13 320 XR品牌
貝克曼庫爾特產地
美國樣本
暫無測量范圍:
0.01– 3,500 μm誤差率:
-分辨率:
-重現性:
-儀器原理:
其他分散方式:
-測量時間:
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新一代激光衍射粒度分析儀 LS 13 320 XR
LS 13 320 XR激光衍射粒度分析儀是一款全自動、高準確性、高分辨率、高重現性以及操作非常簡單的干濕兩用粒度分析儀,采用全程Mie光散射理論并提供Fraunhofer理論模型。LS 13 320 XR配備有多種新型的樣品進樣模塊,“即插即用”,滿足不同的分析要求,靈活便利;**的PIDS技術(***:4953978,5104221),真正實現10nm粒徑測量;直觀的軟件和觸摸屏設計,大大簡化了儀器的操作。LS 13 320 XR將為您開啟全新的測量體驗!
超高分辨率
不論單峰、雙峰還是多峰,不論納米、微米還是納微米,均可實現高分辨率的檢測
寬測量范圍:10nm-3500μm
提供真實(峰值)、高分辨率的測試數據,下限低至10nm,上限高達3500μm
升級版 PIDS 技術:更好解決納米測量挑戰
提高原始數據檢測精度,提高檢測器檢測垂直和水平偏振散射光的靈敏度,真正實現亞微米級粒度分析 - 以往極難達到的測量能力
多峰自動檢測
測量前無需估計粒度分布情況(比如多峰、窄分布),便可獲得真實的測量結果
簡單、直觀的操作軟件
? 從開始測量到獲得結果僅需 2 次點擊
? 包含一個集成的光學常數數據庫
? 隨時向您通報有用的用戶診斷報告
? 精簡的工作流不僅易于使用,更節省時間
驗證
這是《生產質量管理規范(GMP)》和其它法規要求所必須的。
LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗證程序,可滿足安裝驗證(IQ)和運行驗證(OQ)所需。
暫無數據!
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