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SCI-02A Zeta電位粒度測量儀

一 主要用途：

Zeta電位粒度測量儀采用全量程米氏散射及電泳原理，可以測懸浮于液體中的納米顆粒表面都存在電荷和粒徑分布，通過Zeta電位粒度測量，可以幫助工程師找到阻止顆粒絮凝、保持懸浮液穩定的配方，同樣也可以幫助工程師找到促使顆粒絮凝（廢水處理），加速顆粒沉淀的方法，經過多年的不斷深度開發和完善，業已成為行業中便捷儀器之一。

二 技術參數：

1、采用全量程米氏散射及電泳原理

2、粒度測試范圍：0.1-800μm

3、電位值范圍：-500mV ～ +500mV

4、重復性誤差、準確性誤差：＜1%

5、測量方式：氦氖氣體光源，自動上水，自動對中，100W超聲和高至3000轉/分鐘可調反向渦輪攪拌雙級分散，支持一鍵式全自動和手動粒徑分析。

6、zeta的測量過程采用視頻追蹤技術，可捕捉膠體顆粒在電場中的泳動軌跡。

7、采用恒壓低頻轉換電源, 既可以防止極化，又可以大大提高測量速度，正負換向時間為 0.30 秒至 1.20秒連續可調，采樣時間僅需 3～10 秒，電極間電壓可根據需要調節。

8、標配PC端應用軟件，預裝應用程序和驅動程序的數據采集處理微機操作系統，與設備相連，運行專業軟件，對設備進行設置和控制，顯示、存儲運行數值和曲線。