推薦會(huì)議速報(bào)|散射光測量中的角度盲區(qū)及其對(duì)粒度測量的影響

中國粉體網(wǎng)訊 2020年7月3日，由中國粉體網(wǎng)聯(lián)合中國顆粒學(xué)會(huì)顆粒測試專委會(huì)、北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)共同舉辦的“粉體粒度表征及在線檢測技術(shù)網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)”如期進(jìn)行。來自珠海真理光學(xué)儀器有限公司的張福根董事長帶來精彩的《散射光測量中的角[更多]