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大昌華嘉亮相第32屆藥品質量檢驗檢測技術大會

大昌華嘉亮相第32屆藥品質量檢驗檢測技術大會
DKSH  2025-07-24  |  閱讀:462

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32屆藥品質量檢驗檢測技術大會724-25西安匯成天璽酒店舉行DKSH大昌華嘉科學儀器在C3展位現場展示密度/折光儀、旋光儀、水分活度儀、納米粒度及Zeta電位分析儀歡迎您的蒞臨

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DQDC2025大會現場


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大昌華嘉展位:C3


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麥奇克NANOTRAC WAVE II納米粒度及Zeta電位儀采用先進的“Y”型光纖探針光路設計,配置膜電極產生微電場,操作簡單,測量迅速,無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,完全消除由于空間位阻(不同光學元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質的影響,顆粒間多重散射等)帶來的光學信號的損失,結果準確可靠,重現性好。


麥奇克NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動態光背散射技術(DLS),首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念,快速準確地得到被測體系的納米粒度分布,外置固定式光學探頭滿足任何應用需求。





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