
大昌華嘉科學(xué)儀器部

已認(rèn)證
大昌華嘉科學(xué)儀器部
已認(rèn)證
第32屆藥品質(zhì)量檢驗(yàn)檢測(cè)技術(shù)大會(huì),7月24-25日在西安匯成天璽酒店舉行。DKSH大昌華嘉科學(xué)儀器在C3展位現(xiàn)場(chǎng)展示密度/折光儀、旋光儀、水分活度儀、納米粒度及Zeta電位分析儀,歡迎您的蒞臨。
DQDC2025大會(huì)現(xiàn)場(chǎng)
大昌華嘉展位:C3
麥奇克NANOTRAC WAVE II納米粒度及Zeta電位儀采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì),配置膜電極產(chǎn)生微電場(chǎng),操作簡(jiǎn)單,測(cè)量迅速,無(wú)需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,無(wú)需外加大功率電場(chǎng),無(wú)需更換分別用于測(cè)量粒度和Zeta電位的樣品池,完全消除由于空間位阻(不同光學(xué)元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質(zhì)的影響,顆粒間多重散射等)帶來(lái)的光學(xué)信號(hào)的損失,結(jié)果準(zhǔn)確可靠,重現(xiàn)性好。
麥奇克NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)(DLS),首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,快速準(zhǔn)確地得到被測(cè)體系的納米粒度分布,外置固定式光學(xué)探頭滿足任何應(yīng)用需求。
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