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大塚電子(蘇州)有限公司
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產品詳情
多檢體納米粒徑量測系統nanoSAQLa
多檢體納米粒徑量測系統nanoSAQLa的圖片
參考報價:
面議
品牌:
大塚電子
關注度:
5349
樣本:
暫無
型號:
nanoSAQLa
產地:
江蘇
信息完整度:
典型用戶:
暫無
索取資料及報價
認證信息
 
名 稱:大塚電子(蘇州)有限公司
認 證:工商信息已核實
訪問量:180151
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產品分類
公司品牌
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產品簡介

特點

只需一臺,輕松實現5檢體連續測量
低濃度到高濃度都可對應
高速測量,標準時間1分鐘
搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
內置非浸泡型的cell block,無分注夾雜物
搭載溫度梯度功能

測量范圍(理論值)

粒徑 0.6nm~10μm
濃度范圍 0.00001~40%
溫度范圍 0~90℃*

仕樣


型號多檢體NANO粒徑測量系統
測量原理動態光散射法
光源高出力半導體激光*1
檢出器高感光度APD
連續測量5檢體
測量范圍0.6nm ~ 10μm
對應濃度0.00001 ~ 40% *2
溫度0 ~ 90℃ (有溫度梯度功能) *3
規格遵照 ISO 22412:2017
遵照JIS Z 8828:2013
遵照JIS Z 8826:2005
尺寸W240 X D480 X H375 mm
重量約18 kg
軟件平均粒徑解析 (累積法解析)
粒度分布解析
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
粒度分布疊寫
逆相關函數?殘差plot
粒徑monitor
粒徑顯示范圍 (0.1 ~ 106 nm)
分子量計算功能


*1 根據激光安全基準 (JIS C6802)級別區分,本儀器的安全級別為1級。
*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黃膽酸:~40%
*3 標準glass cell的批量測量的情況。
  一次性cell或連續測量時, 15 ~ 40℃ (不對應溫度梯度)


測量范例







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