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采用可控壓四線制雙探頭電阻法，基于高精度位移、電壓電流壓力、溫濕度傳感，實現持續、精準、穩定監測極片**條件下電阻特性。

 L3：極片電阻測試的必要性

   技術發展迭代 Technologydevelopment iteration

   基材/極片電阻測試原理 Principle of substrate/electrode resistance test 

 解決方案1：極片整體電阻測試（G2, G2A, G2R）

   解決方案2：底涂電阻&面密度等綜合測試系統（G3）

   解決方案3：極片整體電阻測試&涂層電阻分解 (Magic 3R)

 測試系統參數Test System Parameters

   測試系統概覽 Test System Overview

   測試系統概覽Test System Overview

 測量系統控制模式介紹 Introductionto the control mode of the measuring system

   產品特色與優勢Features And Advantages

   可靠性分析（R&R）Reliability Analysis (R&R)

   應用領域與方向 Application Areas And Directions

   涂炭基材開發評估與生產環境控制參數指導

   極片配方開發評估   Evaluation of Electrode Tablet Formulation Development

   Step Mode_壓力加載與緩釋控制模式下極片電阻分析

   連續線性模式_不同生命周期極片評估

   生產制程穩定性監控   Production Process Stability Monitoring

   不同溫度極片電阻分析    Resistance Analysis Of Pole Pieces At Different Temperatures

   極片電阻正反面分解

 測試系統參數Test System Parameters