誤差率:
無分辨率:
無重現性:
無儀器原理:
動態光散射分散方式:
無測量時間:
無測量范圍:
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電聲法Zeta電位分析儀
主要特點:
1)能分析多種分散物的混合體;
2)無需依賴Double Layer模式,準確地判定等電點;
3)可適用于高導電(highly conducting)體系;
4)可排除雜質及對樣品污染的干擾;
5)可準確測量無水體系;
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術,無需先測量粒度即可進行電位測量;
7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;
8)具有自動電位滴定功能;
優于光學方法的技術優勢:
1)被測樣品無需稀釋;
2)排除雜質及對樣品污染的干擾;
3)不需定標;
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度;
6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um
電聲法Zeta電位分析儀
優于electroactics方法的技術優勢:
1)無需定標;
2)能測更寬的粒徑范圍;
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
6)可適用于無水體系;
7)可適用于高導電(highly conducting)體系;
優于微電泳方法的技術優勢:
1)無需稀釋,固合量高達60%;
2)可排除雜質及對樣品污染的干擾;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影響測量;
6)對流(convection)不影響測量;
7)可準確測量無水體系;
技術參數:
1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;
2)可測量參數:粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減;
3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數);
6)樣品體積:30-230ml;
7)PH范圍:0~14;
8)電導率范圍:0~10 s/m
樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;
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