測(cè)量范圍:
5nm-100μm誤差率:
無(wú)分辨率:
大于0.1nm重現(xiàn)性:
<1%儀器原理:
動(dòng)態(tài)光散射分散方式:
濕法測(cè)量時(shí)間:
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美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
Zeta電位測(cè)量方法有哪些?
Zeta電位又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(shì)(ζ-電位或ζ-電勢(shì)),是指剪切面(Shear Plane)的電位,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。
由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周?chē)姆刺?hào)離子,這些反號(hào)離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布而形成擴(kuò)散雙電層。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分,即Stern層和擴(kuò)散層。當(dāng)分散粒子在外電場(chǎng)的作用下,穩(wěn)定層與擴(kuò)散層發(fā)生相對(duì)移動(dòng)時(shí)的滑動(dòng)面即是剪切面,該處對(duì)遠(yuǎn)離界面的流體中的某點(diǎn)的電位稱為Zeta電位或電動(dòng)電位(ζ-電位)。即Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢(shì)差。它可以通過(guò)電動(dòng)現(xiàn)象直接測(cè)定。
測(cè)量Zeta電位的方法主要有:
電泳法-當(dāng)電場(chǎng)施加于電解質(zhì)時(shí),懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極,作用于粒子的粘性力傾向于對(duì)抗這種運(yùn)動(dòng)。當(dāng)這兩種對(duì)抗力達(dá)到平衡時(shí),粒子以恒定的速度運(yùn)動(dòng),我們一般稱這個(gè)速度通為電泳遷移率。
電滲法-單位場(chǎng)強(qiáng)下的液體移動(dòng)速度稱為電滲速度。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢(shì)成簡(jiǎn)單的正比關(guān)系,所以可以利用電滲來(lái)測(cè)量ξ電勢(shì),但此法只限于能形成毛細(xì)管或多孔介質(zhì)的材料。
流動(dòng)電位法-流動(dòng)電勢(shì)是指當(dāng)電解質(zhì)溶液在一個(gè)帶電荷的絕緣表面流動(dòng)時(shí),表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著溶液流動(dòng)方向運(yùn)動(dòng),這些帶電荷粒子的運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致下游積累電荷,在上下游之間產(chǎn)生電位差就是流動(dòng)電勢(shì)。
超聲電聲法-在膠體溶液兩側(cè)施以電壓,帶點(diǎn)粒子運(yùn)動(dòng)會(huì)產(chǎn)生聲波,測(cè)量所產(chǎn)生的聲波,就可以計(jì)算顆粒的動(dòng)態(tài)遷移率,后通過(guò)計(jì)算得到Zeta電位
美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
典型應(yīng)用:
綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機(jī)械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無(wú)水體系,油漆成像材料。
主要特點(diǎn):
1)能分析多種分散物的混合體;
2)無(wú)需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點(diǎn);
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
5)可精確測(cè)量無(wú)水體系;
6)Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量;
7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量;
8)具有自動(dòng)電位滴定功能;
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)被測(cè)樣品無(wú)需稀釋;
2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
3)不需定標(biāo);
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度;
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)無(wú)需定標(biāo);
2)能測(cè)更寬的粒徑范圍;
3)無(wú)需依賴Double Layer模式
4)無(wú)需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;
6)可適用于無(wú)水體系;
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)無(wú)需稀釋,固合量高達(dá)60%;
2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影響測(cè)量;
6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量;
7)可精確測(cè)量無(wú)水體系;
技術(shù)參數(shù):
1)所檢測(cè)粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;
2)可測(cè)量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;
3)Zeta電位測(cè)量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));
6)樣品體積:30-230ml;
7)PH范圍:0~14;
8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m
可以測(cè)試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。
對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
納米粒度儀應(yīng)用于制備機(jī)械強(qiáng)度高的無(wú)voc聚合物薄膜的軟核-硬殼乳膠顆粒檢測(cè)與溶劑型聚合物分散體相比,由水性聚合物分散體澆注的聚合物薄膜通常存在固有的機(jī)械強(qiáng)度不足的缺陷。這個(gè)缺點(diǎn)可以通過(guò)使用包含硬相和軟
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產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務(wù)
易用性
性價(jià)比
前言我們誠(chéng)摯的邀請(qǐng)您參加2025上海國(guó)際生物醫(yī)藥產(chǎn)業(yè)周分論壇--當(dāng)前形勢(shì)下新藥研發(fā)技術(shù)研討論壇。本次論壇邀請(qǐng)到行業(yè)內(nèi)各位專家學(xué)者,對(duì)目前藥品研發(fā)的行業(yè)動(dòng)態(tài)和變革進(jìn)行了深入的解讀。我們希望您能在本次論壇
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