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飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL
飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL

參考價格

面議

型號

Phenom XL

品牌

飛納

產地

荷蘭

樣本

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復納科學儀器(上海)有限公司

金牌會員

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第8年

|

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工商已核實

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核心參數
  • 探測器:

    BSD, SED (可選), EDS (可選)
  • 加速電壓:

    4.8kV-20.5kV連續可調
  • 電子槍:

    CeB6
  • 電子光學放大:

    200,000X
  • 光學放大:

    3-19X
  • 分辨率:

    小于 8nm
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飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL G2

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Phenom XL (電鏡腔室 100mm x 100mm)具有飛納電鏡系列以下優點:


  • 超高分辨

    —— 10 nm,**采用長壽命 1500 小時、高亮度的 CeB6 燈絲

  • 快速成像

    —— 抽真空時間小于 30 秒

  • 簡易操作

    —— 光學 + 低倍電子導航定位,結合全自動馬達樣品臺移動觀測位置

  • 直接觀測絕緣體

    —— 低真空設計,實現不噴金看絕緣體,且不影響燈絲壽命

  • 高度自動化

    —— 自動聚焦,自動調節對比度亮度,拍照簡單快速

  • 放置環境無特殊要求

    —— 無需獨立實驗室,無需超凈間

  • 防震設計

    —— 緊湊的一體化設計,可不用防震臺擺放在高層


產品參數

光學顯微鏡:放大 3-16 倍

電子顯微鏡:200,000 倍

探測器:高靈敏度四分割背散射電子探測器

燈絲材料:1,500 小時 CeB6 燈絲

分辨率:優于 8 nm

放置環境:采用專業防震設計,可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房

加速電壓:4.8kV-20.5kV 連續可調

抽真空時間:小于 30 秒

能譜儀:可選配能譜儀


同時,Phenom XL 做出了如下改進,使其在擁有臺式掃描電鏡操作簡單等特點的前提下,具備大型落地式電鏡的高分辨率、多功能和拓展性強等優勢:

Phenom XL 大樣品室**版可選配所有的拓展功能軟件選件,如 3D 粗糙度重建,纖維統計分析測量系統,顆粒統計分析測量系統,孔徑統計分析測量系統。


全自動顯微平臺Phenom XL + 拉伸臺


飛納電鏡此次的新品發布會上會呈現的產品——拉伸臺。此產品也是飛納臺式掃描電鏡Phenom XL 一項重大拓展。拉伸臺是一種動態觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學前沿研究中發揮了重要作用。掃描電鏡原位拉伸臺的**特點是,在進行應力—應變力學定量測試的同時, 利用掃描電鏡的強大的景深、高空間分辨和分析功能,在微觀層面上對材料的力學性能進行動態研究。拉伸臺可以為很多材料做拉伸測試,如金屬材料(研究韌斷過程、應力誘發相變及塑性變形),高分子材料,陶瓷材料等。飛納臺式掃描電鏡的原位拉伸臺能實現 2N to 1000N 的拉力區間,拉伸速度可實現 0.1mm/min 到 15mm/min,滿足幾乎所有領域樣品的原位拉伸觀測。

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飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 拉伸臺


顆粒統計分析測量系統

顆粒統計分析測量系統軟件可以輕松獲取、分析圖片,并生成報告。借助該軟件,用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數據。憑借遠超光鏡的放大倍數,顆粒軟件全自動化的測量,可以把工業粉末的設計、研發和品管提升到一個新臺階。

借助顆粒系統軟件,用戶可隨時獲得數據。因此,它加快了分析速度,并提高了產品質量。


臺式掃描電鏡在粉末冶金領域的應用

1. 粉體形貌、粒度觀察(<10000×,低壓SED)

2. 粉體粒度統計(使用飛納電鏡軟件-顆粒統計分析測量系統)

3. 燒結件缺陷檢查(使用飛納電鏡軟件-超大視野自動全景拼圖)

4. 成品表面質量檢查+雜質判定(掃描電鏡+能譜)

5. 脫脂前后形貌觀察

創新點

拉伸臺,顆粒統計分析測量系統

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產品質量

10分

售后服務

10分

易用性

10分

性價比

10分
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