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飛納掃描電鏡顆粒統計分析測量系統 Phenom Particle Metric
—— 研究顆粒和粉末的強大工具
使用基于飛納臺式掃描電鏡（Phenom SEM）的 ParticleMetric 顆粒測試工具，以*快、*簡便的方式實現顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術的一大進步。快速、易用和超清晰圖像質量的 Phenom 飛納掃描電鏡，加上 Particle Metric 顆粒系統的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。
基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案 ParticleMetric 能夠使用戶根據需要，隨時獲取所觀測顆粒的面積、當量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比、充實度、伸長率、灰度等級、長軸、短軸長度（橢圓）、凸殼體、重心、像素點數、凸狀物等數據，*終實現 ParticleMetric 加速顆粒物分析速度、提升產品質量的目的。
飛納掃描電鏡顆粒工具ParticleMetric的功能
1.可進行以下顆粒分析
顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm
顆粒探測速度：高達 1000 個/分鐘
顆粒測量屬性：大小、形狀、數量
2.可以測量的顆粒參數
面積、當量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比
充實度、伸長率、灰度等級、長軸長度和短軸長度（橢圓）
凸殼體、重心、像素點數、凸狀物
3.可以提供的圖形顯示
按數量或體積的線性、對數、雙對數點狀圖
任何指定參數的散點圖
單個顆粒的 SEM 圖像
4.可以提供的圖形輸出
Word 版本 docx 格式的報告，TIFF 格式的圖像
CSV 文件，離線分析的項目文件（.PAME）ProSuite 的一部分
飛納掃描電鏡顆粒系統 ParticleMetric 工具的優勢
1. 加載 ParticleMetric 軟件的飛納臺式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶采集超細顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數據；
2. 全自動的飛納掃描電鏡顆粒測試系統 ParticleMetric 軟件測量可以實現超出光學顯微鏡、更好景深的視覺效果，為用戶提供顆粒物的結構設計、研發和質量控制方面的細節數據；
3. ParticleMetric 軟件生成的柱狀圖、散點圖可以作為報告的內容按照指定格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測顆粒的不同屬性，生成數量柱狀圖和體積柱狀圖。散點圖可以按照任何一項顆粒的特性生成，以便揭示相關聯系和趨勢；
4. 直接由 Phenom 獲取圖像，識別并確認諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒，關聯顆粒物的特征，比如直徑、充實度、縱橫比和凹凸度；
5. 便捷的操作提升了工作效率并使計劃表簡單化和可視化；
6. 無限制的圖像采集，可輕松存儲于網絡或優盤，便于共享、交流或以后參考；
7. Phenom 的易用性和對環境的良好適應力，用戶可以將試樣**程度視覺化；
8. 附有高清圖片的統計學數據
飛納掃描電鏡顆粒系統 ParticleMetric 軟件適合的應用領域
化妝品行業；食品行業；化工行業；制藥行業；陶瓷；顆粒以及表面涂層；顆粒狀添加劑；環境顆粒；濾器/篩網公司
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2020-12-09
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2020-12-21
2020-12-21
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