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Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡
Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡

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面議

型號

Pharos-STEM

品牌

飛納

產(chǎn)地

荷蘭

樣本

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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

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第8年

|

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核心參數(shù)
  • 探測器:

    BF、DF、HAADF
  • 加速電壓:

    1kV-20kV連續(xù)可調(diào)
  • 電子槍:

    肖特基場發(fā)射電子槍
  • 電子光學(xué)放大:

    2,000,000x
  • 光學(xué)放大:

    27-160x
  • 分辨率:

    優(yōu)于 1nm
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Phenom Pharos 臺式場發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和**的成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶, FEG 場發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率。

Phenom Pharos STEM 臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,配備了 STEM 樣品杯,從另一個維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性。


新品發(fā)布.png


作為全球**臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,在較低的加速電壓下,減少了電子束對樣品的損傷,顯著提高了圖像的襯度。在臺式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像,且支持用戶自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。


STEM.png

BF 像:主要是樣品正下方同軸的探測器接收透射電子和部分散射電子。影響明場像襯度(Contrast)的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚,原子序數(shù)(Z)越大,穿透樣品的電子越少,圖像就越暗,因此 BF 像對輕元素(Z 較小)比較敏感。

DF 像:主要是樣品下方非同軸位置的探測器接收散射電子信號。

HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射電子信號。原子序數(shù)(Z)越大,散射角也越大,原子核對入射電子的散射作用越強,圖像上更亮。因此又被稱為 Z 襯度像。

三種成像模式各有特點,具有不同的成像優(yōu)勢,可以根據(jù)樣品情況搭配使用,成像結(jié)果進行互相驗證。


煙草花葉病毒.png

煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像


對比掃描電鏡的背散射電子圖像(BSE),桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素(Z 較小),輕元素散射作用較弱,因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測細節(jié)。


而桿狀煙草花葉病毒周圍較厚的脂質(zhì)球,電子較難穿透,BF 像上相對較暗。在 DF 模式下,密度較大的脂質(zhì)球表現(xiàn)出較強的衍射,因此在 DF 像上相對較亮。

規(guī)格參數(shù):


  • 系統(tǒng)兼容:Phenom Pharos G2 臺式場發(fā)射掃描電鏡

  • 樣品兼容:? 3 mm TEM 載網(wǎng)(夾具固定)

  • 成像時間:< 40 s*

  • 成像模式:BF、DF、HAADF、 自定義**

  • 成像工作流程:固定的 WD,設(shè)置**的探測器 ,完全集成的 UI

  • 真空度:0.1, 10 & 60 Pa

  • 分辨率:優(yōu)于 1 nm



* 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時間
** STEM 具有 11 分割探測器,用戶可以對其進行自定義選擇

創(chuàng)新點

Pharos STEM 電子顯微鏡,利用 FEG 高亮度電子源,可在透射模式下對薄樣品進行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡 (TEM) 載網(wǎng),實現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場 (BF) 、暗場 (DF) 和高角度環(huán)形暗場 (HAADF) 像,并支持自定義選擇成像模式。

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

10分
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