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500萬以上型號
TESCAN TIMA-X FEG(GM)品牌
產地
歐洲樣本
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| 二次電子圖象分辨率 | 1.2nm @ 30keV | 放大倍數 | 1~1,000,000 x |
| 背散射電子圖像分辨率 | 2.0nm @ 15keV | 加速電壓 | 0.2~30 kV |
| 產地屬性 | 歐洲 | 儀器種類 | 場發射 |
| 價格范圍 | 500萬-700萬 |
TESCAN綜合礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應用范圍很寬，包括礦石性質、工藝優化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨特技術是基于一個完全集成的EDX系統執行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術提供了****的數據采集速度，進而得到快速、準確和可靠的結果。
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發射的穩定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統提供高真空模式為標準，低真空模式為選配。
大 樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時容納7塊直徑**為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒（BSE信號校準）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統性能檢查）。標準校準的元素可以根據客戶要求定制。
配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測量
壓差式防碰撞報警裝置
可觀察樣品室內部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇
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