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ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源,三級獨立真空設(shè)計,優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。標(biāo)配大束流及大樣品倉,支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。
產(chǎn)品特色:
▲ 易用性強(qiáng)
▲ 全自動操作
▲ 肖特基場發(fā)射電子槍
▲ 高穩(wěn)定性
▲ 高分辨觀測
▲ 豐富拓展
應(yīng)用案例:
金顆粒150000X (左)碳納米管 20000X(右)
磷酸鐵鋰 30000X(左)二氧化硅 100000X(右)
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