參考價格
面議型號
F200i S/TEM品牌
賽默飛產地
捷克樣本
暫無探測器：
雙100 mm2 Racetrack 檢測器“( Dual-X”)加速電壓：
20到200 kV電子槍：
場發射槍或高亮度場發射槍電子光學放大：
見參數光學放大：
見參數分辨率：
≤ 0.10 nm看了賽默飛（原FEI）發射掃描/透射電子顯微鏡的用戶又看了
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產品描述
Thermo
Scientific Talos F200i S/TEM
是賽默飛**的用于高分辨率成像和分析應用的場發射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20到200
kV，是專為滿足各種材料科學樣品和樣品的性能和效率而設計的。現可提供對稱布置的雙100 mm2 Racetrack 檢測器“(
Dual-X”)，以**限度提高分析通量。
Talos
F200i標準的 X-TWIN
物鏡極靴間距在應用中具有**靈活性，結合高再現性能的鏡筒設計，可支持高分辨率二維和三維表征分析、原位動態觀測及電子衍射應用。Talos
F200i 還配備了 4k × 4k Ceta 16M 相機，可在 64 位平臺上提供大 視場、高靈敏度快速成像。
Talos F200i S/TEM 專為多用戶和多學科環境設計，并配備了可在所有賽默飛 TEM 平臺使用的Thermo
Scientific? Velox? 用戶界面，對于新用戶來說也非常友好。此外，所有 TEM
日常調整都已經自動化，以提供**并可重復的日常設置。自動調節功能簡化了初學者的學習過程，減少了多用戶環境中的緊張關系，并使有經驗的操作員可以在較短時間內獲取數據信息。
產品參數
產品參數 | |
TEM 線分辨率 | ≤ 0.10 nm |
LACBED **會聚角 | ≥ 100 mrad |
**衍射角 | 24° |
STEM 分辨率 | ≤ 0.16 nm |
EDS | 側插式，可伸縮 |
電子槍類型 | 場發射槍或高亮度場發射槍 |
樣品操作 | |
Z 軸移動總行程 (標準樣品桿) | ± 0.375 mm |
三維重構樣品桿** α 傾轉角 (高視野樣品桿) | ± 90° |
樣品漂移 (標準樣品桿) | ≤ 0.5 nm/min |
特色與用途
關鍵優勢 |
雙 EDS 技術可實現。從單 30 mm2 探頭到可實現高通量 (或低劑量)分析的雙 100 mm2 探頭，可根據您的需求 選擇*理想的 EDS。 |
高質量 S/TEM 圖像和準確的 EDS。借助創新直觀的 Velox 軟件用戶界面，可通過極其簡單的操作方法，獲得 高質量 TEM 或 S/TEM 圖像。Velox 軟件內置的特有的 EDS 吸收校準功能可實現*精確的定量分析。 |
**的原位動態分析功能。可加裝三維重構或原位分析樣品桿、高速相機、智能軟件。 X-TWIN 大物鏡間距可實現三維成像和原位數據采集，同時**限度避免分辨率和分析能力的損失。 |
提高生產效率。超穩定鏡筒設計；借助 SmartCam 實現遠程操作；物鏡功率恒定，可實現快速電鏡模式和高壓切換；并可輕松、快速切換多用戶環境。 |
**可重復性的可靠數據。所有日常 TEM 合軸，例如聚焦、中心高度調節、電子束偏轉、聚光鏡光闌對中、電子束傾斜樞軸點以及旋轉中心調整都是自動完成的，以確保用戶總是從**成像條件開始。實驗可多次重復，因而用戶可以更多關注研究課題而不再糾結于電鏡操作。 |
快速大視場成像。大視場的 4k × 4k Ceta CMOS 相機可以在整個高壓范圍實現高靈敏度、高速實時數字變焦。 |
緊湊型設計。本設備具有更小的尺寸和占地面積，便于在更具挑戰性的較小空間內安裝，同時有助于維修和降低安裝和維護成本。 |
暫無數據！
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由中國機械工程學會主辦、歐波同集團獨家冠名的中國大學生機械工程創新創意大賽——"歐波同杯”第十屆失效分析賽將于2025年8月9日至12日在北京航空航天大學（沙河校區）隆重舉行。歐波同集團誠邀
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