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賽默飛(原FEI)發射掃描/透射電子顯微鏡
賽默飛(原FEI)發射掃描/透射電子顯微鏡

參考價格

面議

型號

F200i S/TEM

品牌

賽默飛

產地

捷克

樣本

暫無
北京歐波同光學技術有限公司

金牌會員

|

第8年

|

代理商

工商已核實

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核心參數
  • 探測器:

    雙100 mm2 Racetrack 檢測器“( Dual-X”)
  • 加速電壓:

    20到200 kV
  • 電子槍:

    場發射槍或高亮度場發射槍
  • 電子光學放大:

    見參數
  • 光學放大:

    見參數
  • 分辨率:

    ≤ 0.10 nm
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產品描述

  Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是賽默飛**的用于高分辨率成像和分析應用的場發射掃描/透射電子顯微鏡,其電壓范圍為20到200 kV,是專為滿足各種材料科學樣品和樣品的性能和效率而設計的。現可提供對稱布置的雙100 mm2 Racetrack 檢測器“( Dual-X”),以**限度提高分析通量。 
Talos F200i標準的 X-TWIN 物鏡極靴間距在應用中具有**靈活性,結合高再現性能的鏡筒設計,可支持高分辨率二維和三維表征分析、原位動態觀測及電子衍射應用。Talos F200i 還配備了 4k × 4k Ceta 16M 相機,可在 64 位平臺上提供大 視場、高靈敏度快速成像。
    Talos F200i S/TEM 專為多用戶和多學科環境設計,并配備了可在所有賽默飛 TEM 平臺使用的Thermo Scientific? Velox? 用戶界面,對于新用戶來說也非常友好。此外,所有 TEM 日常調整都已經自動化,以提供**并可重復的日常設置。自動調節功能簡化了初學者的學習過程,減少了多用戶環境中的緊張關系,并使有經驗的操作員可以在較短時間內獲取數據信息。

產品參數

產品參數

TEM 線分辨率

 0.10 nm

LACBED **會聚角

 100 mrad

**衍射角

24°

STEM 分辨率

 0.16 nm

EDS

側插式,可伸縮

電子槍類型

場發射槍或高亮度場發射槍



樣品操作

Z 動總行程 (標準樣品桿)

± 0.375 mm

三維重構樣品桿** α 傾轉角 (高視野樣品桿)

± 90°

樣品漂移 (標準樣品桿)

 0.5 nm/min

特色與用途

關鍵優勢

EDS 技術可實現。從單 30 mm2 探頭到可實現高通量 (或低劑量)分析的雙 100 mm2 探頭,可根據您的需求

選擇*理想的 EDS

高質量 S/TEM 圖像和準確的 EDS借助創新直觀的 Velox 軟件用戶界面,可通過極其簡單的操作方法,獲得 高質量 TEM S/TEM 圖像。Velox 軟件內置的特有的 EDS 吸收校準功能可實現*精確的定量分析

**的原位動態分析功能。加裝三維重構或原位分析樣品桿高速相機、智能軟件 X-TWIN 物鏡間距可實現三維成像和原位數據采集,同時**限度避免分辨率和分析能力的損失

提高生產效率。超穩定鏡筒設計;借助 SmartCam 實現遠程操作;物鏡功率恒定,可實現快速電鏡模式和高壓切換并可輕松快速切換多用戶環境

**可重復性的可靠數據。所有日常 TEM 合軸例如聚焦、心高度調節、電子束偏轉、聚光鏡光闌對中、電子束傾斜樞軸點以及旋轉中心調整都是自動完成確保用戶總是**成像條件開始。實驗可多次重復因而用戶可以更多關注研課題不再糾結于電鏡操作 

快速大視成像。大視場的 4k × 4k Ceta CMOS 相機可以在整個高壓范圍實現高靈敏度、高速實時數字變焦

緊湊型設計。本設備具有更小的尺寸和占地面積,便在更具挑戰性的較小空間內安裝,同時有助于維修和降低安裝和維護成本 


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產品質量

10分

售后服務

10分

易用性

10分

性價比

10分
評論內容
暫無評論!
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