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AFM-in-Phenom XL品牌
飛納產地
荷蘭樣本
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0.2nm×0.2nm×0.04nm看了AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機的用戶又看了
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全新發布的 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優勢,實現了在同一系統中對樣品進行多模態(SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學)關聯分析。
· 設備掃描范圍(開環):100μm×100μm×20μm
· 設備掃描范圍(閉環):80μm×80μm×16μm
· 分辨率:0.2nm×0.2nm×0.04nm
· **樣品尺寸:21mm×11mm×8mm
· **樣品重量:100g
· 成像模式:表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等
全新發布的 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優勢,實現了在同一系統中對樣品進行多模態(SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學)關聯分析。
2020-12-09
今年 11 月 2 日起,每日早七點至晚八點,包括延安高架、南北高架在內的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因為新能源汽車車牌較容易獲得,不少人轉投新能源汽車,因此帶動了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業進入微利時代,生產具有更高附加值的高品質潔凈鋼也成為鋼鐵企業自身發展的需求。因此,潔凈鋼技術研究及其生產工藝控制技術目前已是各鋼鐵企業的重要課題。生產潔凈鋼的關鍵在于減少鋼中的雜質,而控制
2020-12-21
2020-12-21
9月1日上午,以“掃描電子顯微鏡的新技術與新應用”為主題的學術講座在揚州大學揚州碳中和技術創新研究中心401報告廳隆重舉行。本次講座旨在深入探討掃描電子顯微鏡領域的前沿進展與應用創新,促進學術交流與技
固態電池(SSB)因其更高的能量密度、更長的使用壽命以及增強的安全性,已嶄露頭角,有望成為鋰離子電池的繼任者。盡管 SSB 具有這些潛力,但它們并非沒有挑戰。一個主要問題是電池陰極內部的顆粒接觸失效。
科技浪潮下的電鏡革新,呈現雙軌發展趨勢:一軌駛向極致,前沿透射電鏡不斷突破觀測極限;另一軌通向普及,操作便捷、臺式小型化的設備越來越受科研人員的青睞。曾是頂尖團隊或大型電鏡中心的“專屬”設備,如今正逐
生物樣品最佳觀察時間往往稍縱即逝,而傳統透射電鏡(TEM)的漫長檔期讓關鍵研究被迫等待,亞納米級分辨率雖強,卻難解燃眉之急。Pharos STEM 臺式場發射生物電鏡——把實驗室級分辨率,裝
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掃描電鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)作為半導體行業中不可或缺的高精度檢測工具,憑借其納米級分辨率和強大的表征能力,已廣泛應用于芯片制造、材料開發、失效分析、工