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Pentagon Qlll 表面微粒子計數器表面塵埃粒子理化分析 儀 0.1-5um
Pentagon Qlll 表面微粒子計數器表面塵埃粒子理化分析 儀 0.1-5um

參考價格

90-100萬元

型號

Pentagon Qlll

品牌

產地

美國

樣本

暫無
無錫佐藤精密儀器有限公司

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REDEFINE PRODUCTIVITY

美 國 Pentagon Technologies QIII 是一款用于測量和檢測機

技術來實現量測的精確性和機臺的穩定性。人的肉眼很難

看清直徑在 100um 以下的粒子,這些粒子會快速沉降,

逃避常規的空氣檢測從而聚積在關鍵表面或產品上,從而

減少產品的良率及降低產品的穩定性, QIII ST 表面粒

子檢測器測量( 0.1~5um )的粒子,對于生產環境的控制

,提升產品的良率都起到了很大的作用,能夠幫助企業更

快捷的實現數據化管理。

BENEFITS

快速測量表面顆粒

可以幫忙控制機臺產品上的顆粒物從而提高產量

通過快速識別粒子源,減少故障排除時間

可以監測物料,來料,以及Parts上的Particle

減少PM的周期

?符合 ISO 14644-9表面粒子操作規范

?減少粒子相關故障


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