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1. 非易失存儲器晶圓級BIST測試平臺。
2. 通過提高并行測試數量，縮小測試機外形體積等設計顯著降低了測試成本（COT）。
3. 搭配具有12個測試單元的一體prober使用，節省大量的設備占用空間。
4. 成熟的自動控制系統實現自動化測試。
5. 高MTBF，低MTTR。
6. 全球裝機量超過4000臺。
| 應用場景 | NAND/NOR Flash |
| Test Speed | 同測數高達1152 個DUTS |
| Image Capture Speed | 每個DUT分配獨立的4個pins, 2 DR pins + 1 I/O pin + 1 Power Pin |
| 工作頻率 | 20 MHz |
| 電源范圍 | 0 ~ 4 V 200 MA 每個DUT |
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