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產品型號
晶圓隱裂外觀檢測設備-ADS
應用場景
成型、拋光
檢測缺陷
隱裂、崩邊、劃傷、線痕、化學臟污
檢測精度
隱裂:30μm、正反面:20um;
產能
185 WPH@300mm
產品特點
隱裂檢、高產能、低過檢、ADC
晶圓種類
Ф6″、Ф8″、Ф12″(尺寸可定制)
適用于成型、拋光工藝段,應用明場及紅外檢測原理進行無圖形晶圓的正反面及內部無法肉眼觀測的隱裂缺陷檢測,具備崩邊、劃傷、線痕、化學臟污、隱裂等微小缺陷的檢出能力
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產品質量
售后服務
易用性
性價比
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